可控硅測試儀廣泛應用于各種電子設備中

更新時間：2017-11-07

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　　可控硅測試儀是可控硅整流元件的簡稱，是一種具有三個PN結(jié)的四層結(jié)構(gòu)的大功率半導體器件，亦稱為晶閘管。可控硅測試儀具有體積小、結(jié)構(gòu)相對簡單、功能強等特點，是比較常用的半導體器件之一。可控硅測試儀被廣泛應用于各種電子設備和電子產(chǎn)品中，多用來作可控整流、逆變、變頻、調(diào)壓、無觸點開關等。家用電器中的調(diào)光燈、調(diào)速風扇、空調(diào)機、電視機、電冰箱、洗衣機、照相機、組合音響、聲光電路、定時控制器、玩具裝置、無線電遙控、攝像機及工業(yè)控制等都大量使用了可控硅器件。

　　可控硅測試儀系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結(jié)果的準確可靠。

　　可控硅測試儀系統(tǒng)面板的顯示裝置能夠及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結(jié)果。前面板的小鍵盤方便了系統(tǒng)操作。通過小鍵盤，可控硅測試儀系統(tǒng)可以脫開主控計算機獨立完成多種測試。

　　可控硅測試儀主要應用范圍：

　　1、可以測量0.-1000A以下的單雙向可控硅測試儀及各種可控硅模塊的IGT、VGT、VDSM、VRSM。

　　2、可以測量可控硅的雙向觸發(fā)二極管的轉(zhuǎn)折電壓。

　　3、可以測量各種大小功率的二極管、三極管、穩(wěn)壓管、場效應管、IGBT及各種模塊的擊穿電壓。

　　4、可以測量各種大小功率的壓敏電阻、放電管等的擊穿電壓。

　　5、可以測量非電解類小容量電容器的耐壓（尤其可以測量4KV以下的小容量高壓電容）。

　　6、一般可控硅測試采用0-4KV等級的儀器已能滿足要求，若有其它特殊要求可以定制zui高達0-12KV的儀器。